波長色散熒光光譜儀是一種分析技術儀器，它使用X射線與材料的相互作用來確定其元素組成。波長色散熒光光譜儀適用于固體、液體和粉末，并且在大多數情況下是非破壞性的。波長色散熒光光譜儀是一種現場篩選方法，不會消除對傳統(tǒng)實驗室分析的需求。
波長色散熒光光譜儀可以在原子級發(fā)生的簡單三步過程中考慮：
傳入的 X 射線從材料原子內的原子核周圍的軌道之一中敲出電子。
在軌道中產生一個空穴，導致原子具有高能量、不穩(wěn)定的構型。
為了恢復平衡，一個電子從更高能量的外軌道落入空穴。由于這是一個較低的能量位置，多余的能量以熒光 X 射線的形式發(fā)射。
排出電子和替代電子之間的能量差異是發(fā)生熒光過程的元素原子的特征——因此，發(fā)射的熒光 X 射線的能量與被分析的特定元素直接相關。正是這一關鍵特性使 XRF 成為如此快速的元素組成分析工具。
波長色散熒光光譜儀分析的好處是什么？
XRF分析是一種可靠的技術，將高精度和高準確度與簡單，快速的樣品制備結合在一起。它可以很容易地實現自動化，以用于高通量工業(yè)環(huán)境，此外，波長色散熒光光譜儀還可以提供有關樣品的定性和定量信息。波長色散熒光光譜儀還可以使快速篩選分析。
